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Gentec-EO QE50LP-H-MB-QED-D0熱釋電探測(cè)器 202187

更新時(shí)間:2025-01-20

瀏覽量:115

產(chǎn)品介紹

Gentec-EO QE50LP-H-MB-QED-D0熱釋電探測(cè)器描述：

數(shù)據(jù)表(中) 數(shù)據(jù)表(EN) PC-Gentec-EO用戶手冊(cè) QE用戶手冊(cè) INTEGRA用戶手冊(cè)

Gentec-EO QE50LP-H-MB-QED-D0熱釋電探測(cè)器的激光能量測(cè)量高達(dá)85 J。

使用 QED 吸收器，達(dá)到高的損壞閾值

帶有 QED 衰減器的檢測(cè)器專(zhuān)為能量密度非常高的激光而設(shè)計(jì)。我們的QED 衰減器可擴(kuò)散測(cè)量到的光束，并在更大的體積內(nèi)吸收光束，使其幾乎堅(jiān)不可摧。

高的最大能量密度破壞閾值

激光損壞設(shè)備的風(fēng)險(xiǎn)微乎其微

特別適合高能量密度脈沖光束

INTEGRA（USB 或 RS-232）輸出選擇

當(dāng)您選擇 INTEGRA 輸出選項(xiàng)時(shí)，您將獲得集檢測(cè)器和儀表于一體的便捷的一體化測(cè)量?jī)x器產(chǎn)品。將檢測(cè)器插入電腦，安裝我們的免費(fèi)軟件，即可開(kāi)始測(cè)量。

具成本效益的解決方案

與其他解決方案具有相同的測(cè)量性能

接口功能和特性不打折扣

適用于 OEM 應(yīng)用和現(xiàn)場(chǎng)維修的緊湊型解決方案

多功能儀器可節(jié)省重新校準(zhǔn)的費(fèi)用

主要特性

模塊化概念

提高您的檢測(cè)器的可能功率：有兩種不同的冷卻模塊

噪聲水平低

MB涂層2 μJ

可獲得的QED衰減器

測(cè)量不超過(guò)5倍的更高能量。提供可選的校準(zhǔn)，所有波長(zhǎng)都在532和1064納米之間，或單一波長(zhǎng)

可提供金屬減震器

高重復(fù)率（4000 Hz）

測(cè)試目標(biāo)包括

MB 型

智能接口

包含所有的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)

產(chǎn)品規(guī)格

測(cè)量能力
光譜范圍 0.3 - 2.1 μm
典型升起時(shí)間 900 μs
重復(fù)性 < 0.5%
最大重復(fù)頻率 200 Hz
最大可測(cè)量能量 85 J
噪聲等效能量 20 μJ
最大脈沖寬度 675 μs
能量校準(zhǔn)不確定性 ±3 %
損壞閾
最大平均功率密度 600 W/cm2
最大能量密度 8 J/cm2
最大功率 45 W
物理特性
冷卻 傳送（散熱片）
孔寬 47 mm
孔高 47 mm
吸收器 QED
尺寸 78H x 80W x 49D mm
重量 0.34 kg

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