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BeamPeek?系統(tǒng)

更新時間:2022-12-20

瀏覽量:1233

  • 品牌:OPHIR
  • 型號:BeamPeek
  • 描述:BeamPeek? 系統(tǒng)允許同時對增材制造 (AM) 激光器進行光束分析、焦斑大小和位置以及功率測量。它跟蹤這些參數(shù)如何隨時間變化,以幫助維持制造零件的質(zhì)量和可重復(fù)性。...
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產(chǎn)品介紹

BeamPeek?系統(tǒng)的功能特性:

用戶手冊

BeamPeek? 集成了激光光束分析儀相機、功率計、光束收集器、分束器和光學(xué)器件,為工業(yè)環(huán)境中的增材制造激光分析提供了一個全面的解決方案。

  1. 焦點尺寸

  2. 校準(zhǔn)焦點位置以構(gòu)建平面

  3. 激光功率

  4. 激光功率密度

  5. 光斑大小和功率隨時間的變化

BeamPeek 允許在 1kW 的情況下使用被動冷卻進行長達 2 分鐘的連續(xù)測量,無需風(fēng)扇或通過射束收集器可互換盒進行水/空氣冷卻。其工業(yè)設(shè)計使其易于集成到生產(chǎn)線中并在不干擾生產(chǎn)過程的情況下執(zhí)行激光特性分析。

BeamPeek?系統(tǒng)圖紙:

BeamPeek?系統(tǒng)規(guī)格:

Beam Profiling
波長 532nm, 1030-1080nm
最小-最大焦點尺寸 34.5μm - 2mm
功率范圍 10 - 1000 瓦
焦距 150mm-800mm
焦點位置已校準(zhǔn) ±100μm
光束分析 ISO 11146 測量
功率計 NIST 溯源校準(zhǔn) ±3%
遵守 CE、UKCA、中國 RoHS

BeamPeek?系統(tǒng) FAQ

BP 是否需要定期校準(zhǔn)?

是的,因為 BeamPeek 包括 Ophir 常規(guī)功率計。

相機傳感器/焦平面位于何處?

與具有焦平面設(shè)置的 BeamCheck 不同,當(dāng)激光焦點位于床表面時,相機傳感器處于對焦?fàn)顟B(tài),BeamPeek 相機傳感器在底座/機器床上大約 75 毫米(精確值針對每個設(shè)備單獨校準(zhǔn)) . 為了使光束聚焦在相機傳感器上,床身必須向下移動校準(zhǔn)值。這種設(shè)置的原因是改進了功率處理:更高的功率和更長的高功率曝光時間。

獲得功率測量結(jié)果的最短等待時間是多少?

對于帶熱敏頭的功率計,功率測量的最短響應(yīng)時間為 3 秒。

獲得功率測量結(jié)果的最短等待時間是多少?

對于帶熱敏頭的功率計,功率測量的最短響應(yīng)時間為 3 秒。

如果使用 NIR 激光波長 1070nm,測量 1064nm 或 1080nm 應(yīng)該選擇哪個 PM 波長?

選擇最接近激光波長的波長,在本例中 1064 比 1080 更接近。

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